Giordano, CarloPantano, PietroPace, Calogero2017-11-032017-11-032014-11-17http://hdl.handle.net/10955/1264Scuola di dottorato"Archimede" Scienza e Tecnologia dei Sistemi Complessi, Ciclo XXVII a.a. 2014enElettronicaDispositivi elettroniciNeutron induced single event burnout on power mosfetsThesis